| DEFEKTANALYSE IN ORGANISCHEN HALBLEITERBAUTEILEN |
TYPISCHE DEFEKTE, WIE SIE IN ORGANISCHEN HALBLEITERBAUTEILEN AUFTRETEN KÖNNEN SIND:
ZUR UNTERSUCHUNG DIESER DEFEKTE WERDEN VERSCHIEDENSTE METHODEN EINGESETZT, U.A.:
ALLE DIESE VERFAHREN HABEN JEDOCH ETLICHE NACHTEILE. SO SIND SIE OFT:
Da die Fertigungsprozesse für die verschiedenen Anwendungsfelder organischer Halbleiterbauteile (OLED, OPV, etc.) weitgehend identisch sind, stellt die Einschränkung, dass die oben genannten Methoden nur für selbstleuchtende Bauteile anwendbar sind, einen enormen Nachteil dieser Analyseverfahren dar. Ein weiterer Nachteil dieser Methoden ist, dass sie nur der Visualisierung der Defekte dienen. Eine erste Ursachenanalyse, z. B. die Unterscheidung zwischen Grenzflächen- und Bulkeffekten, ist mit keiner dieser Methoden möglich. |
|
|
