| PCT MESSMODI |
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Zur Ermittlung aller relevanten Kenngrößen organischer Halbleiter verfügt der PCT über 4 automatische Messmodi.
 CURRENT MAPPING: ORTSAUFGELÖSTE MESSUNG DES PHOTOSTROMS BEI KONSTANTER BIASSPANNUNG
Der Prüfling wird mit dem Laserstrahl abgerastert und es wird eine Landkarte des Photostroms der Probe aufgenommen. Biasspannung, Laserintensität, Spotgröße, Schrittweite im Scan und die Größe des Messfeldes sind frei einstellbar. Wird Ubias = 0 gewählt, wird in diesem Modus eine Landkarte des Kurzschlussstroms (Isc) des Prüflings gemessen. |
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 VOLTAGE MAPPING: ORTSAUFGELÖSTE MESSUNG DER PHOTOSPANNUNG ZU EINEM VORGEGEBENEN PHOTOSTROM
Der Prüfling wird mit dem Laserstrahl abgerastert und es wird eine Landkarte der zu einem bestimmten vorgegebenen Photostrom gehörenden Photospannung aufgenommen. Der gewünschte Photostrom, Laserintensität, Spotgröße, Schrittweite im Scan und die Größe des Messfeldes sind frei einstellbar. Wird Iphoto = 0 gewählt, wird in diesem Modus eine Landkarte der Leerlaufspannung (Uoc) des Prüflings gemessen. |
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 IV TESTING: AUFNAHME LOKALER IV KENNLINIEN
In diesem Modus wird die Abhängigkeit des Photostroms von der Biasspannung gemessen. Spannungsschritte, Laserintensität und Spotgröße sind frei einstellbar. |
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 Ubi MAPPING: ORTSAUFGELÖSTE MESSUNG DER BUILID-IN SPANNUNG
Der Prüfling wird mit dem Laserstrahl mit zwei verschiedenen Laserintensitäten abgerastert und es wird eine Landkarte der Build-in Spannung Ubi aufgenommen. Die Laserintensitäten, Spotgröße, Schrittweite im Scan und die Größe des Messfeldes sind frei einstellbar.
Die Kombination und Interpretation der Messergebnisse der verschiedenen Messmodi geben einen tieferen Einblick in die lokale Bauteilperformance und in die Problemfelder und Prozesse, die mit der Entwicklung und der Produktion von OLEDs (Organic Light Emiting Devices), OPVs (Organic Photo Voltaic Cells), organischen Sensoren, etc. einhergehen. |
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