| KUNDENNUTZEN |
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IM VERGLEICH ZU VIELEN ANDEREN MESSMETHODEN ERLAUBT DER PCT IN DER UNTERSUCHUNG ORGANISCHER HALBLEITER DIE:
- Visualisierung von Defekten in organischen Halbleitern
- Die photoelektrischen Eigenschaften dieser Materialien sind extrem empfindlich
- Inhomogenitäten können gemessen werden, die selbst in der Lichtemission nicht beobachtbar sind.
- Ortsaufgelöste Untersuchung nichtleuchtender Anwendungen organischer Halbleiter
- Visualisierung der lokalen Performance (Degradation) in organischen Halbleitern
- Ursachenanalyse von Defekten in organischen Halbleitern
- Landkarten des Photostroms zeigen vorwiegend Effekte des aktiven Materials
- Landkarten der Photospannung und lokale IV Kennlinien zeigen vorwiegend Effekte der Kontakte und Grenzflächen
- Vorhersage bezüglich Alterungsprozessen in OLEDs
- Die photoelektrischen Eigenschaften könnten schon zu einem sehr frühen Zeitpunkt Rückschlüsse auf das zukünftige Bauteilverhalten erlauben
- Bauteilfehler werden frühzeitiger als mit anderen Methoden festgestellt
- Rückschlüsse auf die Ursache des Bauteilausfalls sind möglich
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